
面向先进半导体及其相关材料(如光刻胶)开发的高品质溶剂。
可根据客户需求,提供定制化规格与质量控制方案。
特点
低金属含量
低颗粒(Particles)
低水分
*金属杂质控制达到ppt(万亿分之一)级别, 产品在完成充填后,可提供包装状态(最终容器),同时保证品质。
特性示例
基本特性:
高纯度(ppm → ppb → ppt级)
低金属杂质含量
高溶解性 / 可控挥发性
与材料体系高相容性
典型技术指标:
纯度:≥99.99%–99.999%
金属离子:< ppb级
颗粒:超低颗粒控制
有机残留:低
->(先进制程甚至要求ppt级控制)
用途
半导体前道工艺
晶圆清洗(Wafer Cleaning)
光刻胶溶剂 / 稀释剂
去胶(Photoresist Stripping)
刻蚀后残留清除
工艺作用
去除有机污染物与颗粒
保持晶圆表面洁净
提升图形精度与一致性

使用场景印象图
产品清单
产品名称 | 化合物名称 | CAS号 |
环己酮(Anone | 环己酮 | 108-94-1 |
γ-丁内酯 | γ-丁内酯 | 96-48-0 |
乳酸乙酯 | 乳酸乙酯 | 687-47-8 |
| NMP | N-甲基-2-吡咯烷酮 | 872-50-4 |
| PGEE | 丙二醇单乙醚 | 52125-53-8 |
| DPM | 二丙二醇单甲醚 | 34590-94-8 |
*本文章中的数据是在力森诺科集团的实验条件下所测得的结果。